CCD臺(tái)式直讀光譜儀-新型OE750

Raina

新型OE750是一款突破性的新型OES金屬分析儀。其涵蓋了金屬元素的全部光譜，并具有同類產(chǎn)品中痕量元素的檢出限。

由于行業(yè)法規(guī)日益嚴(yán)格，供應(yīng)鏈變得復(fù)雜以及更多地使用廢料作為基礎(chǔ)材料，因此鑄造廠和金屬制造商必須將雜質(zhì)和痕量元素控制在很低ppm范圍內(nèi)。在過去，這一級(jí)別的OES對(duì)許多企業(yè)而言是遙不可及。日立分析儀器推出的新型OE750可改變這一現(xiàn)狀。

這款CCD臺(tái)式直讀光譜儀可用于分析所有主要合金元素，并識(shí)別金屬中含量低的雜質(zhì)、痕量元素和處理元素，如鋼中的氮。 OE750的測(cè)量速度快、可靠性高且運(yùn)營成本低，可進(jìn)行高性價(jià)比的日常分析和全面質(zhì)量控制，其性能可與更大、更貴的光譜儀媲美。

為什么選擇 OE750?

1. 值得信賴的結(jié)果在同類產(chǎn)品中控制雜質(zhì)和痕量元素的光學(xué)分辨率好。

2.綜合成本低負(fù)擔(dān)得起的購買和運(yùn)行成本，提供更貴分析儀器所具備的性能。

3. 保持運(yùn)行不間斷設(shè)計(jì)可靠，維護(hù)和標(biāo)準(zhǔn)化要求極低。

4. 支持連續(xù)生產(chǎn) 分析速度快，啟動(dòng)時(shí)間短，可快速反饋熔液質(zhì)量。

只需一臺(tái)價(jià)格合理的OE750設(shè)備，就能提供快速全面的金屬質(zhì)量分析，滿足您所有的需求。

技術(shù)參數(shù)：

    Spectrometer Optical System光譜儀光學(xué)系統(tǒng)
- Paschen / Runge mounting Multi-CMOS optics采用帕邢-龍格裝置多塊CMOS光學(xué)系統(tǒng)
- Diameter Rowland circle: 400 mm. 羅蘭圓直徑：400 mm
- Effective wavelength 119 – 766nm. 波長范圍：119 – 766nm.
- Pixel resolution 7 pm. 像素分辨率：7 pm

吉吉國王

非常感激你的回答，讓我茅塞頓開。

走出舒適圈

如果有誰愿意指導(dǎo)我一下，我會(huì)非常感激。

Nike尼克

看來這是一款非常先進(jìn)的設(shè)備，感謝分享！